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反射膜厚儀是一種用于測量反射膜厚度的儀器，其基本原理是通過測量反射光的相位差來計算反射膜的厚度。它在光學材料、光學器件和光學組件制造中具有廣泛的應用，可以幫助工程師們更準確地評估和控制產品的光學性能。該儀器采用了光干涉原理，它通過分析光波的振幅和相位差來測量反射膜的厚度。具體來說，它利用光學干涉器產生一組平行光束，將這些光束照射到被測反射膜上，然后測量反射光的光強和相位差。通過這些數據，儀器可以計算出反射膜的厚度。反射膜厚儀具有高精度、高靈敏度和高可靠性等優點。相比于傳統的反...

光譜橢偏儀是一種高精度測量材料光學性質的儀器，能夠定量地測量材料的折射率、厚度、表面形態等參數。它的工作原理是探測材料對偏振光的旋轉和二次波，進而獲得材料的光學常數、薄膜厚度和表面結構等信息。核心部分是光源、光偏振器、光軸調節器、樣品臺、光學檢測裝置。其工作流程通常是，光源所發出的偏振光經過光偏振器、光軸調節器，照射到樣品表面，測量后的光子通過光學檢測裝置，轉換為電信號，并經過數據處理得到光學參數。其結構特點如下：光源系統：光源系統是基礎部分，通常采用白熾燈或氙燈作為光源，并...